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  • HCTZ-2S自動修正手持式四探針測試儀器
    HCTZ-2S自動修正手持式四探針測試儀器

    更新時間:2024-06-13

    型號:HCTZ-2S

    瀏覽量:1594

    自動修正手持式四探針測試儀器可測量片狀、塊狀半導體材料的徑向和軸向電阻率及擴散層的薄層電阻,適用于半導體和太陽能材料測試的要求,也可對分立電阻進行測量,USB接口可為用戶提供遠程控制及測試數據的統計和分析。由于采用了電池和外接電源兩種供電方式,既能適應固定場合對元器件進行檢測,又可隨身攜帶以滿足測試人員的現場測試要求。
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  • HCTZ-2S液晶顯示手持式四探針測試儀器
    HCTZ-2S液晶顯示手持式四探針測試儀器

    更新時間:2024-06-13

    型號:HCTZ-2S

    瀏覽量:1789

    液晶顯示手持式四探針測試儀器,可測量片狀、塊狀半導體材料的徑向和軸向電阻率及擴散層的薄層電阻,適用于半導體和太陽能材料測試的要求,也可對分立電阻進行測量,USB接口可為用戶提供遠程控制及測試數據的統計和分析。由于采用了電池和外接電源兩種供電方式,既能適應固定場合對元器件進行檢測,又可隨身攜帶以滿足測試人員的現場測試要求。
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  • Huace-991靜電塑料導電材料體積電阻率試驗裝置
    Huace-991靜電塑料導電材料體積電阻率試驗裝置

    更新時間:2023-12-19

    型號:Huace-991

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    靜電塑料導電材料體積電阻率試驗裝置: 在測量導電材料電阻率若采用三電極或二電極測量時會因為電極與被測量材料表面電阻而影響測量準確性,本裝置采用四電極(四點探針或四探針)法測量導電和防靜電材料體積電阻率,可以克服表面接觸電阻造成的誤差影響。
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  • Huace-991北京華測金屬導電材料體積電阻率試驗裝置
    Huace-991北京華測金屬導電材料體積電阻率試驗裝置

    更新時間:2023-12-19

    型號:Huace-991

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    北京華測金屬導電材料體積電阻率試驗裝置: 在測量導電材料電阻率若采用三電極或二電極測量時會因為電極與被測量材料表面電阻而影響測量準確性,本裝置采用四電極(四點探針或四探針)法測量導電和防靜電材料體積電阻率,可以克服表面接觸電阻造成的誤差影響。
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  • Huace-991華測銷量*金屬導電材料體積電阻率試驗儀
    Huace-991華測銷量*金屬導電材料體積電阻率試驗儀

    更新時間:2023-12-19

    型號:Huace-991

    瀏覽量:1640

    海淀區華測銷量*金屬導電材料體積電阻率試驗儀: 在測量導電材料電阻率若采用三電極或二電極測量時會因為電極與被測量材料表面電阻而影響測量準確性,本裝置采用四電極(四點探針或四探針)法測量導電和防靜電材料體積電阻率,可以克服表面接觸電阻造成的誤差影響。
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  • Huace-991金屬導電材料體積電阻率試驗裝置
    Huace-991金屬導電材料體積電阻率試驗裝置

    更新時間:2023-12-19

    型號:Huace-991

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    金屬導電材料體積電阻率試驗裝置: 在測量導電材料電阻率若采用三電極或二電極測量時會因為電極與被測量材料表面電阻而影響測量準確性,本裝置采用四電極(四點探針或四探針)法測量導電和防靜電材料體積電阻率,可以克服表面接觸電阻造成的誤差影響。
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  • Huace-991金屬靜電導電材料體積電阻率試驗裝置
    Huace-991金屬靜電導電材料體積電阻率試驗裝置

    更新時間:2023-12-19

    型號:Huace-991

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    金屬靜電導電材料體積電阻率試驗裝置: 在測量導電材料電阻率若采用三電極或二電極測量時會因為電極與被測量材料表面電阻而影響測量準確性,本裝置采用四電極(四點探針或四探針)法測量導電和防靜電材料體積電阻率,可以克服表面接觸電阻造成的誤差影響。
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  • HCDT-300金屬四探針導電材料體積電阻率試驗裝置
    HCDT-300金屬四探針導電材料體積電阻率試驗裝置

    更新時間:2023-12-19

    型號:HCDT-300

    瀏覽量:2054

    金屬四探針導電材料體積電阻率試驗裝置: 在測量導電材料電阻率若采用三電極或二電極測量時會因為電極與被測量材料表面電阻而影響測量準確性,本裝置采用四電極(四點探針或四探針)法測量導電和防靜電材料體積電阻率,可以克服表面接觸電阻造成的誤差影響。
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